Infrared Physics & Technology
SCIE
按雜志級別劃分： 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)
- ISSN：1350-4495
- 創(chuàng)刊時(shí)間：1994
- 是否預(yù)警：否
- E-ISSN：1879-0275
- 出版地區(qū)：NETHERLANDS
- 是否OA：未開放
- 出版語言：English
- 出版周期：Bimonthly
- 影響因子：3.1
- 出版商：Elsevier
- 審稿周期： 約3.0個(gè)月 約8.1周
- CiteScore：5.7
- H-index：56
- 出版國人文章占比：0.54
- 開源占比：0.0259
- 文章自引率：0.1212...
Infrared Physics & Technology雜志簡介
Infrared Physics & Technology是由Elsevier出版商主辦的物理與天體物理領(lǐng)域的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊，自1994年創(chuàng)刊以來，一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(hào)（ISSN：1350-4495，E-ISSN：1879-0275），出版周期Bimonthly，其出版地區(qū)設(shè)在NETHERLANDS。該期刊的核心使命旨在推動(dòng)物理與天體物理專業(yè)及INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION學(xué)科界的教育研究與實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的交流，發(fā)表同行有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文，提倡學(xué)術(shù)爭鳴，激發(fā)學(xué)術(shù)創(chuàng)新，開展國際間學(xué)術(shù)交流，為物理與天體物理領(lǐng)域的發(fā)展注入活力。
該期刊文章自引率0.1212...，開源內(nèi)容占比0.0259，出版撤稿占比0，OA被引用占比0.0214...，讀者群體主要包括物理與天體物理的專業(yè)人員，研究生、本科生以及物理與天體物理領(lǐng)域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學(xué)術(shù)背景和興趣。Infrared Physics & Technology已被國際權(quán)威學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內(nèi)的學(xué)者和研究人員檢索和引用，有助于推動(dòng)INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION領(lǐng)域的研究進(jìn)展和創(chuàng)新發(fā)展。
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：5.7
- SJR：0.565
- SNIP：1.043
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics | Q2 | 116 / 434 |
73% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q2 | 63 / 224 |
72% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q2 | 83 / 284 |
70% |
CiteScore: 這一創(chuàng)新指標(biāo)力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標(biāo)如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù)，跨越多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標(biāo)的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標(biāo)準(zhǔn)化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計(jì)數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標(biāo)，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個(gè)指標(biāo)的詳細(xì)信息。
CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對比
Infrared Physics & Technology中科院分區(qū)表
中科院分區(qū) 2023年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū) 2022年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月基礎(chǔ)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理 | 3區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū) 2021年12月升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區(qū) | OPTICS 光學(xué) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 | 2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢圖
WOS期刊JCR分區(qū)（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 25 / 76 |
67.8% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 37 / 119 |
69.3% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 63 / 179 |
65.1% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 24 / 76 |
69.08% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 43 / 120 |
64.58% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 55 / 179 |
69.55% |
JCR（Journal Citation Reports）分區(qū)，也被稱為JCR期刊分區(qū)，是由湯森路透公司（現(xiàn)在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認(rèn)的期刊分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫，按照期刊的影響因子進(jìn)行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個(gè)區(qū)：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)與中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）存在不同之處。例如，兩者的分區(qū)數(shù)量不同，JCR分為四個(gè)區(qū)，而中科院分區(qū)則分為176個(gè)學(xué)科，每個(gè)學(xué)科又按照影響因子高低分為四個(gè)區(qū)。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發(fā)文數(shù)據(jù)
| 年份 | 年發(fā)文量 |
| 2014 | 214 |
| 2015 | 249 |
| 2016 | 262 |
| 2017 | 237 |
| 2018 | 336 |
| 2019 | 338 |
| 2020 | 390 |
| 2021 | 370 |
| 2022 | 438 |
| 2023 | 475 |
期刊互引關(guān)系
| 被他刊引用情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數(shù) |
| INFRARED PHYS TECHN | 721 |
| IEEE ACCESS | 182 |
| SENSORS-BASEL | 101 |
| REMOTE SENS-BASEL | 85 |
| OPTIK | 84 |
| APPL OPTICS | 64 |
| OPT QUANT ELECTRON | 61 |
| APPL SCI-BASEL | 49 |
| MATER RES EXPRESS | 49 |
| OPT EXPRESS | 49 |
| 引用他刊情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數(shù) |
| INFRARED PHYS TECHN | 721 |
| APPL PHYS LETT | 261 |
| OPT EXPRESS | 195 |
| APPL OPTICS | 172 |
| IEEE T GEOSCI REMOTE | 163 |
| J APPL PHYS | 155 |
| NDT&E INT | 136 |
| OPT LETT | 123 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 116 |
| J ELECTRON MATER | 105 |
相關(guān)期刊
-
Radiation Detection Technology And Methods
輻射探測技術(shù)與方法
中科院分區(qū)：4區(qū)
-
Laser & Optoelectronics Progress
激光與光電子學(xué)進(jìn)展
中科院分區(qū)：4區(qū)
-
Chinese Journal Of Lasers-zhongguo Jiguang
Chinese Journal Of Lasers-zhongguo Jiguang
中科院分區(qū)：4區(qū)
-
Astrodynamics
天體動(dòng)力學(xué)
中科院分區(qū)：1區(qū)
-
Scientia Sinica-physica Mechanica & Astronomica
中國科學(xué)：物理學(xué) 力學(xué) 天文學(xué)
中科院分區(qū)：4區(qū)